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產品名稱:

磁性顆粒檢測清潔度(du)分析系統(tong)

清潔度顆粒制樣設備(bei)由我司自(zi)主(zhu)研發的磁(ci)性顆粒檢測(ce)清潔度分析系(xi)統(tong),對管控鋰電池正極(ji)負極(ji)材料中金屬超標(biao),非(fei)常實(shi)用,具備(bei)自(zi)動化分析功能,按照不同(tong)標(biao)準(zhun)自(zi)動出(chu)數據報告。
產品型號: AOLL 140L 產(chan)品(pin)品(pin)牌: 蘇(su)州奧(ao)萊爾 瀏覽次數: 3075 更(geng)新(xin)品時間: 2022-05-09

產品概述

正(zheng)極材料(liao)(liao)是決定鋰(li)(li)(li)離(li)子電(dian)池(chi)(chi)性能的(de)(de)關鍵(jian)材料(liao)(liao)之一,也是目(mu)前商業化(hua)鋰(li)(li)(li)離(li)子電(dian)池(chi)(chi)中主要的(de)(de)鋰(li)(li)(li)離(li)子來源,其性能和價格對鋰(li)(li)(li)離(li)子電(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)影響(xiang)較大。目(mu)前研制成(cheng)功并得到應用的(de)(de)正(zheng)極材料(liao)(liao)主要有鈷(gu)酸(suan)(suan)鋰(li)(li)(li)、磷酸(suan)(suan)鐵鋰(li)(li)(li)、錳(meng)酸(suan)(suan)鋰(li)(li)(li)、三元(yuan)材料(liao)(liao)鎳(nie)鈷(gu)錳(meng)酸(suan)(suan)鋰(li)(li)(li)(NCM)和鎳(nie)鈷(gu)鋁酸(suan)(suan)鋰(li)(li)(li)(NCA)等(deng)

正(zheng)極材(cai)料在(zai)鋰電(dian)池的(de)(de)(de)總成本(ben)中占據(ju)40%以上的(de)(de)(de)比例,并(bing)且(qie)正(zheng)極材(cai)料的(de)(de)(de)性能(neng)(neng)直接影響了(le)鋰電(dian)池的(de)(de)(de)各(ge)項(xiang)性能(neng)(neng)指標(biao),所以鋰電(dian)正(zheng)極材(cai)料在(zai)鋰電(dian)池中占據(ju)核心地位。

當正極(ji)材(cai)料(liao)中存(cun)在(zai)鐵( Fe )、銅(Cu )、鉻(ge)(Cr )、鎳(Ni)、鋅(Zn)、銀(yin)(Ag)等金屬雜質時(shi),電(dian)池(chi)化成階段的電(dian)壓達到這(zhe)些金屬元素的氧化還原(yuan)電(dian)位后,這(zhe)些金屬就會先在(zai)正極(ji)氧化再到負極(ji)還原(yuan),當負極(ji)處的金屬單質累(lei)積(ji)到一(yi)定程(cheng)度(du),其沉積(ji)金屬堅(jian)硬(ying)的棱(leng)角就會刺穿隔膜,造成電(dian)池(chi)自(zi)放(fang)電(dian)。

因此(ci),電池制造商(shang)為(wei)了保證(zheng)電池性(xing)能穩定,預防自放電發生,必須推動材料供(gong)應商(shang)從人、機、料、法、環五大方(fang)面防止(zhi)金屬(shu)異物引入。

由我司自主研發的磁性顆粒檢測清潔度分析系統,對管控鋰電池正極負極材料中金屬超標,非常實用,具備自動化分析功能,按照不同標準自動出數據報告。

磁性顆粒檢測清潔度分析系統設(she)備特點:VDA19 / ISO16232清(qing)潔度檢(jian)測標準推薦方案,更大(da)景深,分(fen)析過程全自動化

采用核(he)心(xin)智(zhi)(zhi)能圖像拼(pin)接技(ji)術(shu)對標準濾(lv)膜進行智(zhi)(zhi)能掃描,無(wu)縫拼(pin)接,全局(ju)預覽圖像全自動識別金屬(shu)顆粒,分(fen)析結果MAP圖儲(chu)存,數據保存目錄,可(ke)任意調用及(ji)重新(xin)分(fen)析。SQL數據(ju)庫統計,可(ke)選(xuan)擇任意時間段查看并調出最大金(jin)屬顆粒、任意顆粒尺寸范(fan)圍數據(ju),并以趨勢(shi)圖(tu)表述。內(nei)置最新(xin)VDA19和ISO16232標準,可自(zi)定義標準

系(xi)統分析原理

金屬和非金屬顆粒識(shi)別(bie)原理(li):由一(yi)體式(shi)偏振(zhen)鏡組合自動切換識(shi)別(bie)。

第1步(bu):偏振鏡處于偏光狀(zhuang)態下拍(pai)攝顆粒照(zhao)片,此時,金(jin)屬顆粒光澤(ze)被屏蔽,所有顆粒的(de)形態和(he)尺(chi)寸會被統計分析,并(bing)按照(zhao)標準(zhun)的(de)尺(chi)寸區間(jian)進行(xing)歸類。

第2步:偏振(zhen)鏡處(chu)于明場(chang)狀態下拍攝顆粒(li)照片(pian),此時,金屬(shu)顆粒(li)光澤不被屏蔽。

 第3步:分析比對:軟件通過兩次顆粒(li)(li)圖片對比,快速(su)從所有顆粒(li)(li)中(zhong)識別金屬顆粒(li)(li)并(bing)標記。

 



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